该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标
※ 波长范围及峰值波长（任选一种）：
（1） UV－365探头： λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2） UV－420探头： λ：(375～475)nm；λP＝420nm
※ 辐照度测量范围： (0.1～1.999×105)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光： UV365：小于0.02％ UV420：小于0.02％
※ 余弦特性：符合国家二级光照度标准 ※ 准确度：±5％（相对于NIM标准）
※ 相应时间：1秒 ※ 使用环境：温度(20±20)℃；湿度＜85％RH
※ 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 电源：9V积层电池（6F22型）一只
UV-A,UV-B,UV-M（紫外辐照计）紫外线强度仪的区别
随着科学技术与生产应用的发展及人们环境保护意识的提高，紫外辐照计得到越来越广泛的应用。
·UV-A紫外辐照计 适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的 紫外辐照度测量工作。便携式，分单通道和双通道型两种。
·UV-B紫外辐照计 适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。便携式，分单通道和双通道型两种。
·UV-M多通道型紫外辐照计 将UV-A、UV-B的功能集为一身，是小型台式机。
UV-M多通道型紫外辐照计
该仪器适用于杀菌、光刻、固化、紫外光源、探伤、材料老化、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。
主要技术指标
* 波长范围及峰值波长
名称 | 420 | 365 | 297 | 254 |
起始波长范围(nm) | 375～475 | 320～400 | 275～330 | 230～275 |
峰值波长(nm) | 420 | 365 | 297 | 254 |
* 辐照度测量范围
0.1～199.9×103 μW/cm2
* 紫外带外区杂光
UV254: 小于0.2%；
UV297: 小于0.02%；
UV365: 小于0.02%；
UV420: 小于0.02%
* 准确度
±10% （相对于国家标准）
* 响应时间
1秒
* 使用环境
温度（20±20）℃；湿度 <80%
* 电源
AC 220V，50Hz 或 DC 12V, 1.2Ah
注 意
本店产品价格都是未税价格，开发票需要加税点，普通发票加5%（总金额不少于100元），17%增值税发票需要加10%-12%（总金额不少于3000元），需要开发票的请联系客服加税点，谢谢