上海物光 显微熔点仪 SGW® X-4
产品描述 特点：测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。主要技术参数：熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：±1℃（在＜200℃时） ±2℃（在20 .0℃一320℃时） 温度显示最小值：1℃
熔点观察方式单目显微镜
光学放大倍数40×
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