爱色丽X-rite Ci52分光光度计
X-rite Ci52分光光度计是一款性能稳定并可用于测量各种不同材料、尺寸、形状、质地和不透明度的样品的多功能仪器。同时进行色彩和外观测量可提高精确性。启用了 NetProfiler3 的系统可确保测量精确、性能稳定。
- 功能多样。提供手持或桌面式两用选择；远程读取开关可提升便利性
- 便于操作。即关即用操作，支持可视 (LED) 和有声状态指示
- 增强了测量的一致性。阻尼静音式后翻型目标基座和远程测量触发器可方便测量难以处理的样品。
- 可处理各种样品和尺寸。可在纸张、塑料、布料和各种硬质表面等材料上测量 14 毫米或更大尺寸
- 读数快速、准确。无论是标准的平整样品还是形状复杂的样品，测量时间均为 2 秒
- 性能可靠。同时进行包括镜面反射（色彩）和排除镜面反射（外观）的测量可确定镜面反射的影响
- 仪器间一致性。出色的仪器间精确度，可确保多台仪器间色彩控制的一致性。
- 已启用 NetProfiler®3。板载系统不但优化了仪器性能，而且允许远程证明
爱色丽 Ci52分光光度计技术规格：
测量几何条件
d/8°，DRS 光谱引擎 | 短期可重复性
白色瓷片上为 0.05 ΔE*ab |
光圈
8mm 测量范围
14mm 目标窗口 | 支持嵌入 NetProfiler |
光源
充气钨丝灯 | 灯寿命
约 500,000 次测量 |
电源供应
交流电适配器要求
90 –130VAC 或 100 – 240VAC，
50 – 60Hz，最大 15W | 接收器
蓝光增强的硅光电二极管 |
数据接口
USB | 光谱范围
400 – 700nm |
操作温度范围
50° 至 104°F（10° 至 40°C）
最大相对湿度 85%
（非冷凝） | 光谱间隔
10nm – 测量
10nm – 输出 |
测量范围
0 至 200% 反射率 | 存储温度范围
-4° 至 122°F（-20° 至 50°C） |
测量时间
约 2 秒 | 重量
1.9 磅（0.87 公斤） |
仪器间精确差
CIE L*a*b*：
平均0.20 ΔE*ab，基于
12 块 BCRA 系列 II 瓷片的平均值
（包括镜面反射）
在任何瓷片上最大值为 0.40 ΔE*ab
（包括镜面反射） | 尺寸
4.3”高 (10.9 cm) x 3.6”宽 (9.1 cm) x 8.4”长 (21.3 cm) 随附配件
校准标准：黑筒
可拆卸白色标准
操作手册、交流电适配器、
USB 线（带线扣） 选件
可选台式架
样品展示夹具 |
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