材 料:Ge (锗)
设计波长:8—14nm
曲率公差:±0.1%
外型公差:+0.0/-0.1mm
厚度公差:±0.02mm
面 形:λ/2@632.8nm
局部面形： ＜0.2
光洁度:40/20
偏 心:<1'
有效孔径:>98%
倒 边:<0.2×45°
镀 膜: 按客户要求
材料特性：
锗材料用于辐射探测器及热电材料。高纯锗单晶具有高的折射系数，对红外线透明，不透过可见光和紫外线，可作专透红外光的锗窗、棱镜或透镜。锗对辐射的吸收能力随着温度上升而不断加强, 100摄氏度以上即对透光率产生明显的影响,严重影响光学系统的性能.锗元件由于其表面高反射率通常镀有减反膜.